作者:李志軍,周慶忠
作者單位:淄博旭硝子電熔材料有限公司
會議錄名稱:慶祝中國硅酸鹽學會成立六十周年全國玻璃窯爐技術研討交流會
出版年:2005-09-09
起頁:167-173
止頁:
總頁數:7
館藏號:
分類號:TQ171.623
語種:中文
會議名稱:慶祝中國硅酸鹽學會成立六十周年全國玻璃窯爐技術研討交流會
會議地點:山東淄博
會議時間:2005-09-09
會議主辦者:中國硅酸鹽學會
關鍵詞:電子顯微鏡;解析;缺陷
內容簡介SEM-EDX(分析型掃描電子顯微鏡)是近年來發展較快的一種現代化儀器,其最大優點是可以在較高倍率(30萬倍)下,直接觀察并得到微區的形貌和成分,因此能在玻璃缺陷分析及耐火材料開發中的工作中發揮巨大的作用。
所需耐材幣:0